Aleader算法詳解——Match2算法

　　Match2算法，是Match算法的延伸，是神州視覺AOI 20多種檢測算法中一種特殊的算法，主要用于檢測本體是否偏移。

　　Match2算法可分為基于基板的定位方式和非基板的定位方式。其中基于基板的定位方式是一種雙定位方式，如下圖：

　　上圖中紅色框是基于基板的定位框，白色框是基于本體的定位，而基于本體的定位方式在基于基板的定位基礎上，在限定的搜索范圍內搜索最優定位點。根據兩個定位框的相對偏移，計算其相對偏移值，作為真實偏移值。其偏移值的計算示意圖如下：

　　上圖中①為標準示意圖，②為待測偏移示意圖。如①區域中基板定位框的中心點坐標為(X, Y),本體定位框的中心點坐標為(X1， Y1)。則標準相對偏移為(DDx, DDy),則計算公式如下：

　　DDx = X1 – X

　　DDy = Y1 – Y

　　當待測本體定位框偏離待測基本定位框(DDx， DDy)時，則實際偏移為(0， 0)。B區域中基板定位框的中心點坐標為(XX, YY),本體定位框的中心點坐標為(XX1， YY1)。則標準相對偏移為(DDx1, DDy1)，則計算公式如下：

　　DDx1 = XX1 – XX

　　DDy1 = YY1 – YY

　　則待測元件的實際偏移為(Dx， Dy),計算公式如下：

　　Dx = DDx1 – DDx

　　Dy = DDy1 – DDy

　　通過判斷(Dx，Dy)的范圍來確定元件是否發生偏移。

　　Match2算法中基于本體框的定位模式有兩種，分為為單框定位模式和雙框組合定位模式。如下：

　　上圖中①為單框定位模式，與Match算法一致;②為雙框組合定位模式，定位區域由B區域中的實線單框和虛線單框組合而成，兩個框的組合區域為有效定位區域。